研發處共同儀器中心於10月25日舉辦「飛行時間式質譜儀學術應用研討會」，提供校內外研究先進認識並了解飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）、和基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀（MALDI-TOF MS）兩套高階影像質譜設備在學術研究上之實用性及應用層面。
本次研討會所邀請的演講嘉賓包括：中央研究院農業生物科技研究中心陳逸然助研究員、ULVAC-PHI公司日本原廠宮山卓也室長、生醫質譜影像核心實驗室麥富德主任，及美商沃特斯國際股份有限公司陳順莉專員；與會人員除了本校師生之外，尚有中研院、原能會、台灣大學等之外校研究人員，參與情況非常踴躍。
中研院陳逸然老師跟大家分享了他多年來使用質譜儀的心路歷程，如何開發各式配備及運算程式來幫助有效利用質譜儀進行學術研究，以及處理質譜儀所產出之龐大資訊，研究成果非常卓越出眾，讓在場的聽眾都收穫良多。本校麥富德老師則介紹了利用質譜儀進行睡眠品質研究的過程；日本宮山卓也室長及陳順莉專員說明了利用兩儀器所進行的學術研究及可應用的範疇。【圖：許準榕研發長致辭】
【左圖：共同儀器中心（右）王淑慧主任致贈紀念品予日廠宮山卓也室長（左）】
【右圖：麥富德老師經驗分享】
此兩套飛行時間式質譜儀其應用範圍各不相同，飛行時間二次離子質譜儀是利用離子槍將樣品離子化，單點孔徑小，所觀察的樣品範圍也較小（掃描範圍以μm2計），其可收集到之質譜訊號以3000m/z以下為主；而基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀是以雷射槍做為離子化的工具，樣品中需添加基質（matrix）後才可進行分析，單點孔徑大，所觀察的樣品範圍也較大（掃描範圍以mm2計），所收集到之質譜訊號可超過8000 m/z，另外配有超高效能液相層析儀及電噴灑離子源配備，可進行液相層析質譜分析實驗。【圖：美商陳順莉專員（右圖）說明】
此兩套設備分別於2012年及2013年購入，均設置於教學研究大樓地下一樓之貴重儀器室，已開放樣品送測服務。目前由本校研發處共同儀器中心提供服務，如需了解相關細節，歡迎電洽研發處共儀中心詢問（分機2630、2632）。【下圖：美商與日廠與王淑慧主任（左1）及麥富德主任（右3）合影】
